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OTDR测试中，出现负损耗【伪增益】

OTDR测试中，出现负损耗？首先出现负损耗肯定是不正常的，这种负损耗的现象也叫伪增益。往往出现在熔接点等位置。以下案例是我们通过福禄克OTDR的OFP-100-Q测试结果。

上图为福禄克OTDR测试结果图片（371.55M出现负损耗即伪增益点）

上图福禄克OFP-100-Q测试的曲线图

我们可以看出在370多米处，可以看到曲线往上走，代表不仅没有信号衰落，反而信号增加。在此次问题解决故障中，原因是因为熔接的问题，重新熔接故障解决了。

我们从原理分析，为什么会出现伪增益呢？

伪增益的简析 ：伪（正）增益现象是指OTDR的背向散射曲线会出现上升台阶，根据OTDR的瑞利散射原理及菲涅尔反射原理，我们知道伪增益是由于事件点之后反射回OTDR的背向反射光功率高于事件点前反射回的。事实上，光脉冲通过事件点始终会存在损耗，不可能有真的增益出现。?光纤事件点损耗包括光纤本征因素引起的和外界因素引起的两部分。外界因素主要有轴心错位、轴向倾斜、纵向分离和纤芯变形等，事件点上的因外界因素导致的损耗无论从哪个方向测试应该是一样的。因此导致伪增益的主要原因是光纤的本征因素，而本征因素影响最大的当属模场直径。?在实际工作中对光纤链路进行测试时，由于被测光纤的模场直径、背向散射系数等几乎都不会完全相同，所以从两个方向测试的结果一般是有差异的，因此，在用OTDR对光纤事件点损耗进行测试时应当取双向测试的平均值更为精确。