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FLUKE线缆认证分析仪技术参数

发布日期:2019年06月21日   浏览次数:4次   编辑:深圳连讯

FLUKE线缆认证分析仪技术参数:

1. 内含2台仪表,互为测试远端;
2. 手持式仪表,支持触摸屏操作,多点操作;
3. 线缆认证测试,最高测试带宽1000MHz;
4. 支持 Cat 6A、8、FA I/II 级和所有现行标准;
5. 可进行光纤损耗、OTDR测试以及Wi-Fi分析;
6. Cat 6A/Class EA 测试时间8秒、Cat 8 /Class I/II 测试时间15秒;
7. IEC标准V级测试精度,中文测试界面;
8. 仪器具有通道适配器、永久链路适配器;
9. 内置外部串扰(AxTalk)测试功能;
10. 仪表具有HDTDX和HDTDR诊断分析功能;
11. 以图形方式显示故障源,包括串扰和屏蔽故障定位;
12. 仪表具有ProjX管理系统;
13. 仪表内置测试标准,TIA、ISO/IEC等,并可以自定义编辑测试标准;
14. 支持以太网供电测试,具备数字发声功能;
15. 支持在线(有线)对讲功能;
16. 可存储12000条测试结果,通过U盘导出测试报告;
17. 通过报告管理软件分析并导出测试结果,支持多种报告格式。
18. 支持的测试参数(测试参数及测试的频率范围由所选择的测试标准所决定)
1  布线图
2  长度
3  传输延迟
4  延迟时差
5  直流环路阻抗
6  插入损耗衰减
7  回波损耗(RL)、远端回波损耗
8  近端串扰、远端近端串扰
9  衰减串扰比(ACR-N)、远端衰减串扰比
10  ACR-F(ELFEXT)、远端ACR-F
11  综合ACR-F(ELFEXT)、远端综合ACR-F
12  综合近端串扰、远端综合近端串扰
13  综合ACR-N、远端综合ACR-N
14  综合外部近端串扰(PS ANEXT)
15  综合外部衰减远端串扰比(PS AACR-F)
16  电阻不平衡测量
17  屏蔽完整性检查
18  TCL 测量
19  ELTCTL 测量
20  CDNEXT 测量
21  CMRL 测量
22  可检测光纤端接面清洁度
19. 提供直观、完整、精细的光缆链路视图:OTDR曲线;
20. ★支持1310nm、1490nm、1550nm单模OTDR光纤测试;
21. ★支持1310nm、1490nm、1550nm单模OTDR PON光纤网络测试;
22. 设备动态范围不得低于1310nm:42dB;1490nm:41dB;1550nm :41dB;
23. 事件死区≤0.5m;
24. 支持光纤二级测试,提供OTDR曲线及事件评估表,符合TSB140标准;
25. 可选OTDR自动/手动测试功能;
26. 支持快速测试,每种波长的最短迹线测试时间≤2s;
27. 支持在一次测试中进行双光纤双向测试,无需移至接线的远端进行测试;
28. 支持数据中心OTDR测试模式,一键测试和报告;
29. 能提供光纤通道图,自动图形标示出故障位置和类型;
30. 支持工作流程计划;
31. 支持测试数据直接传输至云端服务器;
32. 屏幕帮助,提供纠正建议;
33. 数据管理将报告内容和关键测试数据集于一体,包括OTDR、链路事件评表、通道图等,符合TIA-606A标识管理标准;
34. 支持合并Tier 2级测试中同一链路2端测试报告;
35. 支持合并光纤Tier 1级(基本)/ Tier 2级(扩展)测试和报告;
36. 能够进行单模光纤链路一级损耗和长度测试;
37. 光源符合TIA-526-14-B、ISO/IEC 14763-3和IEC 61280-4-1合规性要求的环型通量;

 


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