多模光纤光源的环型通量 (EF) 发射一直受到标准委员会、设备供应商和用户的欢迎。TIA 工作小组 TR42.11 启动了大型循环法测试，这吸引了许多有兴趣的参与者以及许多 IEC 和 ISO 小组委员会成员。启动的此次循环法测试旨在检查用于 EF 测量设备的当前状态。有人怀疑由于 EF 是受限发射，因此 EF 设备可能不具有可降低测量不确定性的精度。数年前在 IEC SC86B 标准范围内进行了类似测试，数据显示被测的某些模发射设备超出了 EF 模板。如果测试时对设备进行了正确校准，就不会出现这个问题。新循环法测试的目的在于测量 EF 测量设备的变化性，并帮助进行此类型测试的人员树立信心。循环法测试为期 19 个月。测试样本经过了代表北美、欧洲和日本公司的 14 名参与者的评定。研究中使用过了五种不同类型的近场发射测量设备。循环法使用的测试样本是两个 LED 双波长光源。由于循环法的目的是测量 EF 设备之间的差异，因此这些测试样本本身并不代表经过校准符合 EF 的发射。

测试协议

测试期间使用的 LED 光源是包含双波长 850/1300 nm“组合器”的生产单元。两种光源均可配合 50 ?m 或 62.5 ?m 光纤测试线使用。光纤测试线长度为 1 米，被永久固定在光源的隔板上。用于 50 μm 和用于 62.5 μm 的仪器如测试线般安装在平台上。测试期间只可操作一小段测试线。测试线上安装了用作调谐模式过滤器的多个“空转”。对模式过滤器进行了“调谐”，以将 850 nm 设置在 EF 模板的目标上。1300 nm 响应保持在 EF 模板内，但与其目标之间存在偏差。EF 设备带有独立的用于 850 nm 和 1300 nm 的成像系统时会出现此情况。参与者收集了不同 EF 案例的数据：850/1300 nm 用于 50 ?m 布线，850/1300 nm 用于 62.5 ?m 布线。为了进行简化，并且由于对 50 ?m布线数据的更多关注，此份文件只显示了该数据。要求各参与者进行三次测量，但在最终分析时使用的是平均值。为便于控制，将光源返还至名为“参照测试台”的原始地点，在此对其进行重新检查、更换电池等操作。在将光源交付给参与者之前收集数据，参与者完成测量并返还光源。北美和欧洲各设有一个EF 参照测试台。在各参照测试台处进行的测量被用于建立基线。

目的

此次循环法测试的目标包含多个部分如前所述，主要原因是评估 EF 测试设备之间的差异。第二目标是发现测量的异常和异常值，以确定根源。第三目标是获得 EF 测试的信心，因此将测试仪器用于现场时，我们可以感受到对网络衰减测量的信心。第四目标是进行所有参与者测量数据平均值的不确定性分析，并为测量指定设置不确定性。

数据解释

为了降低不明确性并排除循环法测试的样本变化性，我们对测试结果进行了标准化。换言之，参与者的测试是相对于将样本交付给参与者之前进行的基线测试进行的。基线测试用于以 EF 模板量级为界限建立新的 EF 目标。100% 和 -100% 界限表示 EF 上限和下限之间的范围，不是真实值。

EFLΔ 和 EFUΔ 表示相对于 EF 目标（现已被基线测试代替）的 EF 模板量级。基线 #5 是向参与者发送样本之前进行的测试。测试 #5 是实际的参与者测试。后测试 #5 是参与者 #5 返还样本之后进行的测试。在此示例中，参与者 #5 保持在 EF 模板内。更多详情参见图 1。

图 1 – 对比前后基线测试的测试结果

长期偏移

在循环法测试之初观察到了样本的偏移现象。由于在测试方法中采用了标准化测量，因偏移可能已影响到结果，因此未被包含在数据中。独立测试表明测试线使用的 3 mm 护套出现收缩。经过数周，这种收缩在温度升高的恒温槽中重现。收缩使得模式过滤量多于测试样本首次设置的过滤量。图 2 显示了 9 个月的期限内 EF 响应的变化。原始测试样本被设置在位于两个虚线中间的 EF 目标上。如果不熟悉 EF 模板，图 2 只显示了 20 ?m 和 22 ?m 处的模板。此区域是对使用测试设备进行的损耗测量影响最大的区域。

图 2 – 9 个月的期限内的样本偏移

850 nm 50 μm 测试结果为了简明起见，此份文件中并未显示所有数据。由于 50 ?m 布线中的 850 nm 处是最重要的区域，图 3 显示了此区域的所有数据。所有 14测试都被合成在一个图片中，以显示平均值以及基于结果分布的一测回标准偏差带。一测回标准偏差表示，所有 EF 测量值在模板内的置信系数均为 75%。在循环法测试期间，所有参与者均在 EF 模板内。但是由于参与者之间的分布不同，因此标准偏差提高。在图 4 中，显示了平均值和二测回标准偏差。二测回标准偏差表示，EF 结果保持在标准偏差限值内的置信系数为 95%。注意在 20 ?m 控制点上，二测回标准偏差虚线稍稍超出了 EF 模板。这个数量表示，在布线衰减测量期间存在 1.8% 的不确定性。

图 3 – 测试的平均值和一测回标准偏差

图 4 – 测试的平均值和二测回标准偏差

摘要14 名参与者使用不同的 EF 测量设备对两个 LED 光源进行了测试。各参与者均在初始基线测试的短时间内完成了测试。通过将基线设置为零对所有测试进行了标准化。在两个地点使用了参照测试台。观察到较慢的 EF 响应偏移，这归因于温度对 3 mm 护套的影响。所有参与者均在 EF 模板内。平均 EF 结果在 EF 限值内，但由于使用了两个西格玛值，测试分布未被严格分组。使用平均 EF 值和一测回标准偏差（75% 的置信系数），所有参与者均在 EF 模板内。对于二测回标准偏差（95% 的置信系数），在一个控制点处存在另外 1.8% 的不确定性（20 ?m 用于 850 nm/50 μm）。

结论实际应用中的 EF 测量可以具有一定的合理不确定性。并且即便使用二测回标准偏差范围和稍稍超出模板的结果，EF 也比模功率分布 (MPD)等原来的标准好很多。但是，人们肯定认为不确定性主要取决于模板目标是否符合 EF 标准。这使得他们会更加注重 850 nm 下 50 ?m 的布线方法。但此时，EF 标准不区分波长和光纤尺寸的规范和信息要求。EF 结果分布可能与校准差异、用户技巧和不同设备类型、IEC 61280-1-4 不合规性及其他因素相关。通过更好的校准和跟踪改善系统不确定性将使标准偏差得到改善（降低分布）。此时使用精准工件校准的 EF 设备无需依赖对国家标准实验室的追溯。有关符合环型通量解决方案的更多信息 — 请访问?http://www.faxy-tech.com/Products/DTX-EFM2.html

第二步：将仪器面板旋钮调制Special Function档位。点击设置基准。

第三步：如果一切正常那么设置基准会显示完成。

第四步：一旦出现测试基准不合格或者指标不对，设备本身会提出错误指示。详细的量程范围如下：当这个测试值处于以下这个量程范围之内，变会出现以下的警告提示：Smart Remote Mode????????????DTX-MFM: -17.5 dBm to -27.0 dBm????????????DTX-GFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm????????????DTX-SFM: -4.5 dBm to -10.0 dBm如图：

PS：这个时候需要对设备本身进行检测。判断模块的好坏，有个最简单的办法就是，利用独立的一根光纤，在主机端由OUT引出，至IN插入，测试独立的模块的性能。

福禄克光缆模块的优点有：

1. 随时可用的背插式光缆模块
2. 12 秒钟的自动测试比现有仪器快5 倍
3. 通过LinkWare 软件提供一级光缆认证测试报告
4. 内置的可视故障定位器（VFL）可查找光缆，验证连通性和极性，并能发现断点
5. 通过对讲机、查找光缆、监测、双向测试和单光缆测试等功能提高测试速度
6. 可作为福禄克网络公司的OptiFiber 光缆认证（OTDR）分析仪的智能远端

众所周知，福禄克DTX1800标配光纤接头是SC。那如何才能对不同接头进行测试呢？例如：我需要测试LC接头的万兆光纤。

福禄克DTX1800 的DTX-EFM2标配连接头为SC接头。

如果我们需要测试LC的光纤。购买福禄克万兆光纤跳线型号为：NFK2-DPLX-LC 50um

细心的朋友应该发现，NFK2-DPLX-LC的原装光纤跳线的接头类型是：2对跳线。一对中一条是：SC-LC，另一条是LC-LC。这意味着什么呢？我们DTX-EFM2的标准连接头SC头已经不能完全适用了。必须把DTX1800光纤模块上的一个连接头换成LC头，换句话说：DTX-EFM2的模块必须有一个是SC连接器一个是LC连接器。而标准配置是2个SC连接器。OUTPUT输出端口是固定SC头，不能更换，那就只能更换INPUT端口换成LC接头。

上图为福禄克DTX系列光纤模块的LC转换适配器

在福禄克DTX-1800主机的光纤模块上更换LC适配器，就形成以下连接模型，我们就可以测试我现场工程要测试的LC连接接头的光纤了。

方案总结：如果我们需要测试不同光纤类型，购买了福禄克原装跳线的同时，不要忘记购买转换适配器。具体请联系连讯达公司。0755-83999818

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现在面临的问题需要对光纤跳线和光缆进行测试，需要全套光纤测试方案。特委派连讯达公司对其进行测试培训。并且购买了全套福禄克设备，包括DTX-1800，最新的DTX-EFM2多模光纤模块和DTX-SFM2单模光纤模块。

福禄克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客户培训场景

福禄克DTX1800 DTX-EFM2 DTX-SFM2客户培训PPT

通过售后培训服务，使其对光纤测试有了全面的了解。

品质部吴主管说：“连讯达是我们长期的合作伙伴，此次为我们提供了光纤跳线解决方案以及光缆的测试解决方案，通过与连讯达的合作我们对我们的光纤线材可以进行严格的品质测试把控，确保用户拿的光纤都是高性能的。”

线缆厂品保部-吴主管和连讯达工程师合影

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未进行适当控制，则多模光源会以不同的方式将光注入多模光纤。?即使采用同一制造商生产的光源，但在不同的发射条件下也会产生不同的链路损耗测量结果，最终出现不同的 — 并且通常令人困惑的 — 测试结果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同类型的光源会有不同的发射条件。例如：发光二极管 (LED) 会使多模光纤过多填充模式组，而激光又未使光纤填充足够的模式组。

这些有缺陷的结果最终会影响布线基础设施的性能，并且会造成数据中心和其它依靠光纤布线连接组件的环境方面的严重问题。

当考虑到网络技术已经进步并且损耗预算已经减少时，这就有些雪上加霜了。为了满足紧缩的损耗预算，必须最大限度地减少测试不确定性。因此，新型高性能宽带业务应用程序就成了现场测试仪器进行更准确和可重复进行多模衰减测量所需的动力。

行业专家认为有必要减小发射条件偏差，这在测试 1 GB 或更高多模光纤时显得尤为必要。

那么，解决方案是什么呢？答案是利用一种称为环形通量 (EF) 的标准，这是一种对以往方法所作的重大改进。环形通量 (EF) 是一种分析多模光源（例如： LED 或激光）启动条件的方法。它是在光源将光照射入多模光纤时光纤芯径内的功率百分比，并且它是通过近场测量来自连接测试仪器的参考等级测试线端的光确定的。

EF 标准可以将损耗测量的偏差减少至 +/- 10%。与以前允许高达40% 偏差的标准相比，EF 标准在多模测试的准确性和可重复性方面有了大幅改善。因此，需要进行线缆认证以及批准布线保证的相关组织和人员已经开始要求遵守这一新标准。

目前有可用于现场测试的环形通量 (EF) 解决方案。它们被称作“发射控制器”，是与模式调节器一起安装的特制测试级参考线。发射控制器的工作原理是在 EF 技术指标范围内限制测试线发射的模式组数量。这样可确保根据标准，结果测量是精确且可重复的。

是否达到环形通量 (EF) 标准由测试仪器供应商确认，它们使用专门的实验室设备对多模光纤内包含的不同模式之间的功率分布直接进行测量。

测量包括使用视频和处理方法，分析测试线端的近场分布。图像会转变为数据和图解说明。可以在选定的 EF 限值范围内绘图，以检查其是否合规。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在将多模链路损耗测量缩小至 10% 偏差目标方面是一个重大进步。它将改善诸如模态功率分布和耦合功率之类的旧方法。由于符合 EF 标准的测试仪器会为认证测试提供最可靠的结果，因此网络工程师和设计师需要更新他们的测试技术指标，以要求使用符合 EF 标准的光源。

值得高兴的是Fluke Networks ?今年已经推出Fluke DTX–EFM2 环型通量多模光纤模块 ?配合DTX-1800我们就可以实现测试环境了。

相关阅读光纤环型通量 (EF) 测量白皮书：http://www.faxytech.com/archives/ef.html