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升级10Gb光纤网络，我们需要CertiFiber OptiFiber保驾护航

深圳连讯 — Mon, 31 Oct 2016 01:16:01 +0000

自光纤标准10GBASE-SR发布以来，将LAN中的骨干布线设施升级到支持10 Gb的活动已经持续了数年，但许多企业业务在此之前并不需要这种速度。

数据中心快速升级到25、40甚至100 Gb速率，以支持虚拟服务器数量的快速增加，从而容纳比以往更多的应用以及需要访问、发送和存储的大量数据。同时，LAN中高速传输数据的需求也达到前所未有的高度，包括有线和无线连接。尽管大学和金融机构等大型企业已经升级了其LAN骨干网，但仍有大量其他机构才刚刚意识到1 Gb速率显然不能满足要求。现在散发的大多数资料信息都集中在将数据中心的光纤设施升级到支持40 Gb和100 Gb速率，但我们认为现在才升级到10 Gb的用户不应该被遗忘，并且会从重新审视关键事项中获益。

讨论升级到10 Gb光纤速率时，归根结底要看布线是否支持这样的速率，有许多关于光纤类型和通道总长度的事项需要考虑。LAN骨干设施常用的多模光纤中，信号变差是由于模式色散造成的。发生模式色散时，光脉冲在一定距离内传播并在不同的时间到达接收器，从而造成误码。这是高速传输的限制因素。较新型的光纤经过特殊设计以防止模式色散，旧型62.5?m多模光纤不在此列。采用这种光纤分布式数据接口(FDDI)级光纤的网络在10 Gb速率下被限制到大约26米——很不切合实际的距离：大多数LAN骨干网一般要求接近300米的距离。为了达到要求的LAN骨干网络距离，光纤就必须升级到激光优化的50?m多模光纤，OM3支持距离长达300米的10 Gb速率，OM4支持距离长达400米的10 Gb速率。

降低损耗

除了光纤类型和距离外，能够真正说明骨干光纤是否支持10 Gb速率的关键参数是衰减。通过该参数，我们能够知道一个端对端通道中的信号损耗达到多少，并且强度仍然足以支持应用。

尽管有些安装方在1 Gb系统时凭侥幸没有计算衰减，但当我们向10 Gb速率升级时，这种做法不可取。10 Gb通道的最大衰减量已经从1 Gb应用时的3.5dB降为2.6dB (850 nm OM3光纤)。衰减与许多因素有关——发送器中使用的光源、电缆类型、通道总长度、连接及接头的数量和质量。对损耗影响最大以及妨碍10 Gb速率支持能力的最常见原因是光纤端面污染。电信机房并不总是最清洁的环境，夹在光纤端面之间的任何灰尘或碎屑都会造成信号损耗、背向反射甚至损害设备。无论哪种类型的光纤，正确的光纤清洁和检查都是确保支持10 Gb所不可缺少的一部分。

即使您选择了正确的电缆类型，并确信能够接受距离限制以及最大程度清洁和检查了光纤端面，但唯一能够100%保证支持IEEE 802.3 10GBASE-SR应用的措施是对光纤链路进行认证。

使用CertiFiber ?Pro等光损耗测试仪(CFP-100-Q,CFP-100-S,CFP-100-M)测量衰减的1级测试是认证的方法之一，而使用OptiFiber ?Pro等光时域反射计(OFP-100-Q)进行2级测试则能够给出光纤通道中每个元件(及光纤、连接器和接头)的衰减，以及也可能影响损耗的事件，例如光纤弯曲。如果没有OTDR，就很难发现并修复有些损耗源。为了便于认证，您需要测试仪能够根据IEEE应用标准以及TIA和ISO/IEC规定的布线标准，给出合格或不合格结果。与计算衰减或花费数小时解读OTDR轨迹相比，合格或不合格指示要容易得多、快速得多。幸运的是，CertiFiber Pro和OptiFiber Pro提供了这种功能。

福禄克OFP-100-Q测试仪SmartLoop一次测试两根光纤

深圳连讯 — Fri, 09 Sep 2016 04:07:29 +0000

福禄克OFP-100-Q光纤测试仪SmartLoop OTDR 能够在一次测试中自动测试和分析两根光纤，同时满足标准的要求。此套专利申请流程可自动根据单独通过/失败分析、显示和报告将两条光纤分离。它不仅可将测试时间至少减半，还能够在无需将 OTDR 移至远端点的情况下获得即时双向平均测试结果。SmartLoop 满足标准对于在双向测试中将接入光纤和尾纤留在初始位置的要求。由于 OTDR 无需移至远端点，所以 SmartLoop OTDR 还能够在很难到达远端点甚至有危险的情况下进一步增强测试的容易度及速度。除了更快地完成任务之外，SmartLoop 还满足标准对于在双向测试中将接入光纤和尾纤留在初始位置的要求。

利用 SmartLoop 正确且快速地完成测试 – 在所有 OptiFiber Pro 模块中均免费包含。

福禄克QFP-100-Q测试仪OptiFiber Pro OTDR 通过业界唯一的智能手机界面提高了光纤测试的高度，让每一名技师都成为光纤专家。 DataCenter OTDR 配置可减少对数据中心光纤进行测试时所发生的不确定性和错误。其超短的死区允许在虚拟数据中心进行光纤跳线测试。这些功能，以及业界最快的扫描时间，使?OptiFiber Pro OTDR 成为您的必备工具。

福禄克FLUKE OFP-100-Q技术参数

深圳连讯 — Sun, 12 Jun 2016 01:13:23 +0000

福禄克FLUKE OFP-100-Q产品功能：

1、智能手机触摸屏，感应手势操作，可单指移动屏幕图形，也可两指放大、缩小操作

2、提供直观、完整、精细的光缆链路透视图：事件图(直线示意图)、事件表、OTDR曲线

3、强大的故障诊断能力：多模850/1300nm，事件死区低至0.5/0.7米，衰减死区低至2.2/4.5米；单模1310/1550nm，事件死区低至0.6/0.6米，衰减死区低至3.6/3.7米

3、支持光纤二级测试所需的“OTDR曲线+事件评估”功能，给出通过/失败结果表，符合TSB568C General Fiber标准对连接点、熔接点损耗值评估的要求；快速直选的数据中心测试模式(“Data Center”测试模式)

4、按需自选OTDR自动/手动测试功能，方便快速、深入分析故障

5、快速查阅全部整合的关键信息(在仪器屏幕、PC报告中或打印的测试报告上均可)

6、提供光纤通道事件图“Event?Map”，即使初学者或偶尔使用者也能看图轻松定位故障

7、提供OTDR测试“事件表”，易读易懂，大大提高故障分析速度，降低分析难度

8、支持插入250/400倍光纤视频显微镜(选)，检查光纤端截面的洁净度和制造缺陷

9、简便易用的数据管理，将丰富的报告内容和关键测试数据集于一体–包括OTDR、链路事件评估表、通道事件图、端面视频截图等，简捷、完整并符合TIA-606A标识管理标准

10、多任务管理目录，可支持多达100个不同用户单独使用，测试结果互不干扰

11、支持首尾光纤连接头的质量检测(使用发射/接收补偿光纤)，(选)

12、手持式工具设计，外形小巧轻便，坚固耐用，适合狭小拥挤的工作环境

福禄克FLUKE OFP-100-Q?产品技术规格：

1、测量波长：850nm +/-10nm，1300nm +35/-15nm，1310nm +/-25nm，1550nm +/-30nm

2、光纤类型：多模 50/125?m，62.5/125?m；单模 9?m

3、动态范围：850nm 28dB，1300nm 30dB，1310nm 32dB，1550nm 30dB

4、测量范围：多模850nm≤9km；1300nm≤35km；单模1310nm≤80km,单模1550nm≤130km

5、事件死区：850nm 0.5 m（典型）,1300nm 0.7 m（典型）；1310/1550nm 0.6m（典型）

6、衰减死区：850nm 2.2 m（典型）,1300nm 4.5 m（典型）；1310nm 3.6 m（典型），1550nm 3.7m（典型）

7、测试速度：自动MM 典型5秒，SM典型10 秒；快测设置 MM典型2秒，单模典型5秒；最佳分辨率设置MM 2~180秒，SM 5~180秒；FaultMap 设置 MM 2~180 秒（最大），SM 10 秒~180 秒（最大）；数据中心模式设置 DataCenter OTDR 设置：MM 1秒（一般在 850 nm），MM 7秒（最大）；SM 20 秒（一般），SM 40秒（最大）；手动设置 MM 3、5、10、20、40、60、90、120、180 秒， SM 3、5、10、20、40、60、90、120、180秒

8、实时追踪率：2次/秒

9、采样分辨率：3cm ~ 400cm

10、脉冲宽度：850nm 3、5、20、40、200ns ；1300nm 3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns；1310/1550nm：3、10、30、100、300、1000、3000、10000、20000 ns

11、反射事件范围：850 nm -14 ~ -57dB，1300nm -14 ~ -62dB，1310nm -14 ~ -65dB，1550nm -14 ~ -65dB

12、长度精度：±1±(0.00005 x长度)±(0.5 x分辨率)米，典型值，单多模

13、线性度：±0.003dB/dB 典型最大值

14、反射精度：850/1300nm ±4dB最大；1310/1550nm ±2dB最大

15、损耗门限设置：0.01dB~1.5dB，0.01dB步进值

16、显示界面：彩色液晶触摸屏屏，支持中文，英文

17、报告软件：LinkWare(免费)

18、报告格式：支持PDF、XML

19、通道图：Channel Map，识别短至0.5米的跳线(850nm)

20、测试接口：多模，PA-SC，UPC，可更换/可清洗；单模，PA-SC，UPC，可更换/可清洗

21、通讯接口：USB，USBmini，RJ-45

22、数据存储：内置存储器，典型2000个OTDR数据

23、电池使用时间：12小时，带显微镜8小时，4~6小时充电时间，7.2V锂离子电池

24、使用海拔：4000米，存储海拔12000米

25、工作温度： -18℃ ~ +45℃

26、存储温度： -30℃ ~ +60℃

27、工作湿度：0%~90%，0°C~35°C；0%~70%，35°C~45°C；无限制: -18°C~0°C

28、震动/跌落：随机2G，5Hz~500Hz；1米跌落试验

29、EMC：EN61326-1

30、OTDR激光安全：I类CDRH，EN60825-2

31、VFL激光安全：II类CDRH，EN60825-2

32、VFL功率：≤1mw

33、VFL波长：650nm±3nm，红光

34、VFL输出模式：连续，脉冲(2~3Hz闪烁)

35、VFL接头适配器：2.5mm通用

36、重量：带模块和电池的总重量：1.28kg, 3lb，5oz，便于携带

37、尺寸：27.94 x 13.33 x 6.67 cm；11 x 5.25 x 2.625 in

福禄克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纤测试仪端口测试

深圳连讯 — Mon, 09 May 2016 06:03:27 +0000

福禄克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纤测试仪端口连接质量执行 OTDR 测试时，测试会显示 OTDR（OFP-100-Q）端口连接的质量，如果测试用时超过大约 3 秒钟，进度屏幕也将显示 OTDR （OFP-100-Q）曲线的预览。其中一个波长的曲线为黑色，另一个波长的曲线为蓝色。

如果检测计显示值未处于良好范围内

清洁福禄克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纤测试仪端口和光纤接头。使用视频探头检查端口和光纤接头的端面，查看是否有刮痕和其他损坏。如果测试仪上的端面显示有损坏，请联系 Fluke Networks 获取服务信息。

如果检测计显示值位于良好范围之外，从模块上移除适配器并检查适配器是否损坏。请确保中心管内的白色塑料环未出现任何损坏。

福禄克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纤测试仪连接不良会增大接头死区。死区可能会隐藏靠近 OTDR 连接器的故障。

连接不良也会降低来自 OTDR 的信号强度。较弱的信号会引起曲线上更多的噪音，这可能会导致 OTDR 丢失事件。它还会减小动态范围。

当测试完成时，质量标尺在 EventMap 屏幕上显示 OTDR 端口事件的详细信息。测试仪将质量标尺信息与测试结果保存在一起。

福禄克OptiFiber PRO(OFP-100-Q)光纤测试仪端口连接质量标尺和进度屏幕

如何查找光纤故障？光纤故障定位测试

深圳连讯 — Wed, 30 Mar 2016 04:22:05 +0000

VFL(可视故障定位仪，Visual Fail Location，红光笔)可以用漏光法原理检测光纤过度弯曲、裂纹、损耗过大、插头内部损坏等问题，帮助确定断纤或标签标记等错误。FindFiber光纤号码笔也可以帮助查找无标签标签混乱的光纤链路。

福禄克FLUKE CFP-100-Q光纤一级测试因只能测得总损耗和/或长度超标，不能定位故障位置，多数时候需分段测试后才能框定故障的大致范围。实际工作中，尝试更换跳线和清洁链路中所有连接器的光纤端面可以消除 90%以上故障现象—虽然不知道故障到底发生在哪里。

福禄克OFP-100-Q OTDR 测试可以清晰地展现连接器、熔接点的损耗或反射是否符合要求，并精确定位损耗事件、反射事件的准确位置，这对于快速定位故障和高速光纤链路的品质保障尤为重要。由于过大的损耗事件、反射事件均会导致误码率上升，而不同传输速率的光脉冲误码率上升程度是不一样的，所以，对于数据中心、智能建筑和园区网等高速短链路为特征的光纤布线链路，应使用高解析度的光时域反射计(HD-OTDR)来认证链路质量和发现、定位故障，使其远离误码率开始波动的“边界”，彻底清除引起误码率上升的“潜在事件”。对于数据中心，由于短链路、多跳接等情形较常见，要求 OTDR 的事件死区指标一般不应大于一米。?OTDR 还常用于测试链路的长度或定位光纤的断纤位置，此为绝大多数 OTDR 的初始设计功能。另外，OTDR 也用于检查、认证拟用光纤跳线是否符合要求(损耗和 ORL 反射)，复核进货光纤的损耗率是否符合要求，检验连接器(耦合器、插座、法兰等)的损耗是否合格等。

福禄克OFP-100-Q光纤测试仪技术参数

深圳连讯 — Tue, 27 Oct 2015 01:43:53 +0000

福禄克OFP-100-Q光纤测试仪技术参数

(1)设备功能

本设备是为局域网和城域网光缆设计，可以满足最新光缆认证和测试需求的仪器。它将插入损耗和光缆长度测量、OTDR分析和光缆连接头端接面洁净度检查集成在一台仪器中，提供更高级的光缆认证和故障诊断。随机附带的LinkWare?PC软件可以管理所有的测试数据，对它们进行文档备案、生成测试报告。

(2)主要技术参数

功能	首创智能手机界面的OTDR，中文界面，多点触摸屏
	全自动测试，以最快速的设定和追踪时间加速光纤验证
	证，业界最短事件和衰减死区
	支持自动端口质量检测
	EventMapTM视图简化使用方式
	模块化设计，便携，轻巧
	LinkWare报告管理，支持测试结果统计
	通过项目和用户的自定义配置提高资源利用率
	自定义项目文件夹
	独特的”DataCe川er?OTDRTM”模式
波长:	850?nm?+/-?10?nm，?1300?nm?+35/-15?nm
波长:	1310?nm?+/-?25?nm，?1550?nm?+/-?30?nm
可测试光缆类型:	50/125μm
可测试光缆类型:	62.?5/125μm
事件死区:	850?nm?:?0.5?m(典型)
	1300?nm?:?0.7m(典型)
	1310/1550?nm?:?0.6?m(典型)
衰减死区:	850?nm?:?2.?5?m(典型)
	1300?nm?:?4.?5?m(典型)
	1310?nm?:?3.6?m(典型)
	1550?nm?:?3.?7?m(典型)
最大长度范围:	850?nm?:?9?km，?1300?nm?:?35?km
最大长度范围:	1310?nm?:?80?km，?1550?nm?:?130?km
测试速度:	自动OTDR?5秒
采样间隔:	3?cm至400?cm
参考重量:	1.28kg
尺寸:	(6.67厘米x?13.?33厘米x27.?94厘米)
电池:	锂离子电池
电池使用时间:	连续自动OTDR测试8小时

【福禄克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection测试仪

深圳连讯 — Fri, 07 Aug 2015 01:21:04 +0000

深圳连讯达专业销售DSX-5000QOI光纤测试仪，21年专业经验。福禄克Fluke DSX-5000QOi CableAnalyzer OTDR提供网线测试仪认证对于Cat6A和Class FA，同时提供CFP-100-Q的QUAD 光损耗测试仪装置以及OFP-100-Q光纤OTDR测试装置。ProjeX ?系统可管理作业要求以及从项目设定到系统验收的整个流程，进而确保正确完成所有测试任务，Taptive ?用户界面可简化设定过程并消除其间可能出现的错误。福禄克DSX-5000QOi通过图形化的展示串扰，回波，屏蔽等故障根源。并且通过Linkware管理软件形成专业报告。

【福禄克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection测试仪配置：

DSX-5000QOI：1 个 Versiv 主机和远端、(2) 个 DSX-5000 CableAnalyzer 模块、(2) 个 CertiFiber Quad OLTS 模块、OptiFiber Quad OTDR 模块、CAT 6A/EA 级永久链路适配器套装、CAT 6A/EA 级渠道适配器套装、(2) 个耳机、(2) 个手带、(2) 个肩带、硬质便携包、USB 接口电缆、LinkWare 软件 CD、AxTalk 软件 CD、用户手册 CD、(2) 个交流电充电器、(2) 个通用耦合器、(2) 个 AxTalk 端接器、(2) 个一键式清洁器 (1.25/2.50 mm)、SC/SC Simplex 适配器、2 个 SC/LC 多模发射电缆—50 ?m、2 个 SC/LC 单模发射电缆—9 ?m、USB 光纤检查视频探头及 4 个探尖、(2) 个 LC/LC Simplex 适配器、SC/LC 符合 EF 标准的 MM TRC 工具包 50 ?m、SC/SC SM TRC 工具包、TRC 便携包、校准说明和操作手册入门指南。

【福禄克】Fluke DSX-5000QOi Cable/ QUAD OTDR & Fiber Inspection测试仪金牌支持：

优点	标准保修期	金牌支持服务
现场技术支持及专用电话号码		?
免费年度校准及返厂翻新		?
免费维修及“第一后备”优先周转服务		?
借用设备服务*		?
免费附件更换**		?
终身回购保证		?
专门为会员提供的促销活动		?
接洽技术支持团队	网站和电子邮件	网站、电子邮件和电话
技术支持的响应时间	< 24 小时	< 2 小时
客户支持 – 电话和电子邮件	早上 7 点至下午 5 点（太平洋标准时间）	24 x 7 x 365
主要案例受理	客户服务	技术支持
在线培训视频、访问知识库、白皮书和最佳实践指南	?	?
软件和固件升级	?	?

福禄克OptiFiber PRO测试整卷光纤线路方案

深圳连讯 — Fri, 17 Jul 2015 05:23:47 +0000

如何更好的测试整箱光纤线。我们可以利用福禄克网络的OptiFiber PRO系列的OFP-100-M测试多模，OFP-100-S测试单模，OFP-100-Q测试单多模。测试的时候千万不要网络两端都测试，如果长度相同，代表整箱光纤线路是没问题的，如果测试的长度不同，那么代表光纤线在中间有断开的情况。需要引起注意。

我们在安装光缆的时候，应该每卷光纤线都要测试，因为如果等你装上去的时候，发现有问题将是非常大的麻烦。重新改正一条光缆的费用都大约重新铺一条光纤了。如果你没有福禄克的OptiFiber PRO光纤（OFP-100-M测试多模，OFP-100-S测试单模OFP-100-Q测试单模）的任一型号，那么可以使用福禄克SimpliFiber PRO光功率计进行测试，千万不用Visifualt或者其他品牌红光笔测试，因为即使光纤中部有损耗，在末端也能看到红色光源

OptiFiber? Pro OTDR 通过业界唯一的智能手机界面提高了光纤测试的高度，让每一名技师都成为光纤专家。 DataCenter OTDR 配置可减少对数据中心光纤进行测试时所发生的不确定性和错误。其超短的死区允许在虚拟数据中心进行光纤跳线测试。这些功能，以及业界最快的扫描时间，使?OptiFiber Pro OTDR 成为您的必备工具。

衰减死区与事件死区详解 – 综合福禄克OFP-100-Q测试仪

深圳连讯 — Tue, 07 Jul 2015 03:50:43 +0000

在高密度环境下测试多模光纤布线需要能够测试超近距离连接器的专用 OTDR。福禄克的OptiFiber PRO可以针对短链路进行测试。单模为OFP-100-S，多模为OFP-100-M ，单多模为OFP-100-Q通常，这种连接器有高插入损耗和高反射。因此，除了有最高空间分辨率的 OTDR 之外，难以在所有测试中均使用 OTDR。这种类型的 OTDR 的核心是两个组件，一个脉冲激光器和雪崩光电二极管 (APD)。电子元件的设计，更重要的是，选择的 APD 的类型，决定了死区的性能。所有 OTDR 供应商均提供死区技术指标。但是，检查死区时有几个需要考虑的事项。首先，必须考虑死区是在什么条件下确定的技术指标。其次，死区如何随反射的提高而变化很重要 – 这是供应商不会提供的技术指标。第三，实际光纤网络中可以预期的死区性能。

死区技术指标
如图 1 所示，衰减死区 (ADZ) 定义为（通常为单个“良好”连接器反射事件）脉冲上升沿到直接拟合到反向散射的 0.5 dB 偏差之间的距离。反向散射水平是曲线上提供光纤衰减值的斜线。此死区技术指标通常是在最佳条件下给出的，例如最短脉冲宽度和最佳连接器反射。ADZ 技术指标的目的是说明在连接器后多少距离能够准确地测量损耗，根据此定义，可与前一连接器串连一根死区长度的跳接线以测量损耗。但实际上可能并不是这样。

在图 2 中，事件死区 (EDZ) 定义为（通常为单个“良好”连接器反射事件）两个在反射峰以下 1.5 dB 的光标之间的距离。这代表了线性域中的半高全宽脉冲宽度。同样，此死区技术指标通常是在最佳条件下给出的，即最短脉冲宽度和最佳连接器反射。EDZ 技术指标的目的是说明在连接器后多少距离能够准确地测量长度。根据此定义，可与前一连接器串连一根死区长度的跳接线以测量长度。通常仅当两个连接器均满足设置 EDZ 的条件（即 -45 dB 反射）时才会是这种情况。任一连接器反射发生变化时，定义不再有效，死区增加。

两种类型的死区通常均在一个高质量连接器上进行测量。对于单模的情况，可以使用 -52 dB 反射的连接器进行测量。在上图中，“非饱和”表示低连接器反射，即在 OTDR 接收器中不会造成饱和和失真。反射高时，死区会因 APD 固有现象“拖尾”而增加。

实际死区应用

客户对 OTDR 性能的预期可能与 OTDR 技术指标不符。技术指标有特定的条件，一般会在脚注上说明。深圳连讯达是专业从事福禄克仪器仪表的销售400-688-2580。对于 OTDR，死区技术指标应仅限指定条件下的近端测量。死区相对测量长度应保持常数。死区是有限宽度发射脉冲的函数，随着测量长度的增加而变宽（较长的长度测量使用宽脉冲）。除稍后将讨论的少数情况外，死区均随反射增加。提供的技术指标供用户比较 OTDR 性能。但是死区指标是为一个事件定义的，而不是作为网络测试。较成熟的 OTDR 不仅显示一条曲线和事件表，它们还提供所测光纤布线的图形“映射”。映射最初是在内建式 OTDR 中引入的，现在已被许多供应商采用。映射信息是从用于生成事件表的相同分析中得出的，但显示为更容易使用的示意图。测量超近距离的连接器时，分析仪软件会达到极限，特别是每个连接器有不同的反射时（即完好的连接器跟一个有划痕的连接器）。

下面是一个事件死区示例。事件死区设置为 1 米。光纤网络在两个较长的长度中间有一根 1 米的跳接线。用户希望 OTDR 定位并识别这个 1 米跳接线并尽量进行损耗和反射测量。仅当满足技术指标的条件时，OTDR 可以测量 1 米跳接线的长度；两个反射均必须在技术指标脚注定义的范围内。请记住事件死区只定位反射峰，所以无法进行损耗测量。在另一示例中，衰减死区声明为 2 米。光纤网络在两个长度中间有一根 2 米的跳接线。用户希望能够测量跳接线的损耗。如果每个反射之后都有足够的反向散射，如图所示，则 OTDR 将可以进行测量。

在图 3 中，识别了 1.94 米长度的第一个连接器及位置、损耗和反射。因为两个连接器间距小，所以第一个脉冲之后的反向散射可能会有所限制。第二个脉冲可能会融合到第一个脉冲的反向散射中。这样，测量的损耗是从第二个脉冲的反向散射到第一个脉冲前侧的反向散射末端。因此，实际测量的是两个脉冲的损耗。

在图 4 中，1.94 米跳接线远端的第二个脉冲无法识别，被标记为隐藏事件。这是因为第二个脉冲的开始被隐藏在第一个脉冲的反向散射中。因此无法对该事件进行充分测量。

图 5 显示如果脉冲之间有足够的距离，则可轻松测量两个反射处的连接器衰减。在这种情况下可以根据 OTDR 技术指标对衰减死区进行验证。

另外，如果光纤网络在两根长光纤中间有一根 2 米跳接线，则可能无法进行可靠的测量，这是因为第一个连接器之后没有足够的反向散射（反射）进行直线近似。图 6 显示了两个紧挨着的连接器，可能正好是衰减死区技术指标的长度。熟练的 OTDR 用户可能可以手动测量两个脉冲的衰减死区。但分析软件则可能使用从第一个脉冲开始到第二个脉冲结束的反射散射之差测量第一个连接器（脉冲）的损耗。

光电二极管

OTDR 设计经常会在两个波长之间共享一个光电探测器。OTDR 中经常使用 InGaAs 探测器在单模测试中探测 1310 nm 和 1550 nm。多模测试有两个常见的选项。第一个是 850 nm 和 1300 nm 均使用 InGaAs 光电二极管。InGaAs 对 1300 nm 响应良好，但在 850 nm 有较低且经常未（由 APD 供应商）指定的响应。第二个选项是使用两个光电二极管，一个 InGaAs 用于 1300 nm 多模，一个 Si（硅）用于 850 nm 多模。

Si 不仅在 850 nm 响应良好，而且与 InGaAs 设备相比有更高的内部增益（APD 的特性）。用于 OTDR 的光电二极管有称为倍增因数的内部增益。该内部增益可以大幅提高与仪器动态范围相关的信噪比。例如，InGaAs APD 的倍增因数可能为 30，而 Si APD 的倍增因数可能为 70。这意味着对于给定的反向散射水平，可以使用更窄的脉冲，从而大幅提高空间分辨率。

InGaAs 和 Si 的死区与反射对比

如前文所述，死区通常随反射的增加而增加，这在使用 InGaAs 光电二极管时尤为麻烦。而 Si 要好得多。下面两图的数据来自使用 Si APD 或 InGaAs APD 的两个 OTDR。InGaAs 数据虽然取自 1550 nm，但在任意波长（包括 850 nm）的死区响应类型都是一样的。850 nm 和 1310 nm 使用了类似的脉冲宽度。

下面的数据显示了使用 OTDR 中常用的 InGaAs 光电二极管时在 1550 nm 上死区和连接器之间的关系。图 7 中的第一个图形显示了反射从典型 UPC 连接器的值 (-45 dB)? 增加到高反射连接器（如脏连接器）时的 850 nm 事件死区 (EDZ) 和衰减死区 (ADZ)。数据显示 EDZ 未受反射的影响。这是因为测量是在非饱和峰下执行的。如果峰变饱和（即“平顶”），则 EDZ 会增加，但这与 OTDR 的设计有关。对于 ADZ，从 2 米到 2.75 米逐渐增加，但在 -26 dB 反射处有一个偏转，且反射为 -25 dB 时 ADZ 增加到 4.5 米。尽管在这个范围上 ADZ 有增加，但仍比使用 InGaAs APD 时 ADZ 的结果好得多，如图 8 所示。

图 8 显示了在反射增加时 InGaAs APD 的 1550 nm 死区性能。此图形显示了反射从典型 UPC 连接器 -51 dB? 增加到高反射连接器 -30 dB（如脏连接器）时的 EDZ 和 ADZ。EDZ 不受反射影响，但 ADZ 慢慢从 4.5 米增加到 5 米（在 15 dB 范围），然后在 -30 dB 快速增加并达到超过 30 米 ADZ。ADZ 将随着反射的增加继续增加。除非为单模 OTDR 进行了复杂的配置，否则使用 InGaAs APD 时它们都会受此现象的影响。

总结

与用于 OTDR 的 InGaAs APD 相比，Si APD 在 850 nm 测量多模时可提供卓越的性能。Si APD 有更好的信噪比，可以对安装的光纤布线使用窄脉冲询问和分析。因连接器的高反射造成光过载时，Si APD 受到的拖尾影响要小得多。进行光纤网络测试时，高反射大概是 OTDR 最常见的问题。数据显示部署了 Si APD 的 OTDR 与其他类型 OTDR 相比有更大性能优势，特别是在高分辨率应用中。虽然高性能 OTDR 可能价格较高，但对于比较 OTDR 供应商提供技术指标的用户来说，除非使用高反射进行评估，否则无法明确看出是否使用了 Si APD。

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深圳连讯 — Fri, 08 May 2015 01:31:38 +0000

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