使用测试跳线有两个原因。第一，是因为已经安装好的被测光纤链路可能两端是插座，此时还没有上设备，所以也没有设备跳线。为了测试方便，需要用一根测试跳线插到插座上去做测试，这就是我们说的光纤“链路测试”(Link Test)。第二，也是最重要的，在测试的时候，如果被测链路两端是插头而非插座，若直接将被测链路插入测试光源的端口，则光源端口发出的光能量耦合到光纤中会随着每根接入光纤的“微结构差异”而有所不同，这会带来被测光纤链路测试有效光能量的光耦合效率不稳定。

耦合效率不稳定具体是指什么呢？

它说的是，每次用来测试的光，射入被测光纤链路当中的测试光能量应该是一样的，这样光功率计上显示的值才是比较确定和可信的，否则，仅仅是因为换了一根测试跳线，测得的光纤链路损耗就可能不一样，有的情况下甚至波动会超过50% — 这叫测试的不确定性。

可是，直接插到光源上进行测试真的很方便，不是吗？

如果是光纤通道(两端是插头)，直接插入到光源端口和光功率计端口来进行损耗测试确实比较方便。但问题在于，将光纤通道一端的插头直接插在光源的输出口上，那么由于每一条被测链路的插头都有可能存在微小的几何结构区别。这样每次光源耦合给光纤的能量就有可能是不同的，这会造成测试结果的波动和偏差比较大。另一个副作用，也可能是更重要一个的“不利影响”，那就是经常性地插拔会导致光源输出口快速磨损，造成耦合精度和稳定性进一步下降。所以在测试光纤的时候，一定要使用测试跳线 — 它的好处是，一旦测试跳线插入光源后就不能再插拔，而只需将测试跳线的另一头插入被测链路一端的插座即可。这样可保证光源耦合给光纤链路的功率比较稳定。如果被测链路是通道(两端不是插座而是插头)，则测试时使用耦合器连接到测试跳线即可。耦合器就是我们熟悉的“法兰”，或叫插座模块。

这么说的话，难道测试跳线就不存在插拔磨损吗？

当然，光纤测试跳线插入被测链路两端的插座时也存在磨损，这个磨损和插在光源端口上的磨损有些相似。但是，时常更换磨损的光纤跳线，其成本比更换测试光源的端口插座及其组件的成本要低得多 — 它们之间的价格可能会超出10倍甚至100倍不止。所以，所有标准都要求，为了保证测试的精度，减少光源输出端口及组件的成本消耗，必须使用测试跳线来实施损耗测试。

那可以自己更换光源的端口组件吗？

不可以。一般都需要到厂商维修中心进行更换，这主要是因为装配技术和装配精度问题。当然，更换组件期间可能会严重影响测试仪器的使用效率，耽误工期。所以一定要求测试者尽量使用测试跳线，频繁磨损的只是测试跳线的一端而已。

明白了。测试必须使用测试跳线，可以自行视情更换。

是的。必须使用跳线还有一个原因，就是有些链路虽然是不能用光源直接进行测试，也可能测试结果可能刻意地不包含某些链路部件。例如，被定义的光纤链路模型有时候需要考虑两端连接器的损耗，有时则只考虑一端的损耗，而有时候则只考虑取得光纤段的损耗即可，不需要两端连接器的损耗 — 这些都需要依据用户的要求来确定测试跳线的数量和用法。在这些不同情况下，如何能获得更准确的测试结果，可能需要灵活地进行测试跳线的接入，才能达到目的。

难道测试跳线的接入方法还有什么特别的门道吗？

有的。为了扣除测试跳线本身的损耗影响，测试之前要先将测试跳线“归零” — 也就是事先拿到测试跳线自身的损耗值，这样才便于准确计算被测链路的损耗(扣除跳线损耗)。一般情况下，有“一跳线归零”、“两跳线归零”和“三跳线归零”法，以后我们可以专门介绍。

在计算损耗预算时，了解行业标准规定的已知应用的损耗限值非常重要。但是，如果真的想知道如何根据限值设计系统，还需要了解特定供应商的电缆和计划部署的连接损耗——由此会影响您决定采用什么组件。这可能会使任务变得有点棘手，因为并非所有的电缆和连接器都完全一样。

让我们来看一个真实的例子。

首先确定应用

不同光纤应用具有不同的最大插入损耗要求，以确保损耗不会太高，以至于阻碍信号正确到达远端。因此，第一项任务是确定系统上线时客户计划运行哪些光纤应用，以及他们计划可能在未来运行哪些应用。

假设客户正在设计一个数据中心，他们只计划在多模光纤(10GBASE-SR)上运行10 Gig。但是，有些链路有可能需要在未来一两年内支持40 Gig。这意味着您不能将系统设计为仅满足10 Gig限值，IEEE规定，400米的OM4多模光纤的最大通道插入损耗限值为2.9dB。

考虑到客户计划将某些链路升级到40 Gig，因此您在设计时需要考虑到这些限值。根据标准，OM4多模(40GBASE-SR4)上实现40 Gig应用时，在OM4仅为150米的情况下最大通道插入损耗为1.5dB——比10 Gig限值要严格得多。

然后考虑组件

根据当前和未来应用的通道损耗限值，现在可以查看供应商的损耗指标了。满足10 Gig的要求相对容易，因为典型的OM4光纤损耗为3dB/km或0.003dB/m，上例中数据中心的链路都是100米或更短。这为通道中的四个连接器保留了2.6dB的损耗裕量。假设客户指定了一个供应商，其MPO至LC配线盒的规定损耗为0.6 dB。因此我们得到：

100米多模光纤损耗0.3 dB + MPO至LC配线盒损耗(0.6dB X 4) = 2.7dB

这比2.9 dB标准低0.2 dB——接近限值但足够用了。所有低于100米的链路都还具有额外的裕量。

但是，当计算未来可能支持的40 Gig应用的损耗预算时，将遇到难题。通道的总损耗限值为1.5dB，连接器只剩下1.2dB的余量。从10Gig升级至40 Gig，您可以更换性能稍好一些的MPO适配器配线盒，比如说0.4 dB，但即便这样，通道中也只能有3个连接器。

这会让您难以抉择——要么缩短光纤长度，限制通道中的连接器数量，要么找到更低损耗的连接器。缩短光纤链路可能会导致数据中心无法按预定设计工作，更不用说您必须将其长度缩短为原计划的30％才能满足指标要求，而且几乎没有任何裕量：

30米多模光纤损耗0.09 dB + MPO至LC配线盒损耗(0.4dB X 4) = 1.69dB

在通道中部署三个连接器意味着客户在核心交换机上只能有一个交叉连接，在汇聚交换机上只能有一个互连。大多数客户都希望其交换机端口保持完全独立和安全，所有移动、增加和更改都在通道两端的交叉连接处进行。为了实现这一目标，您需要两个交叉连接，总共四个连接。

这就是越来越多的供应商提供低损耗版本连接解决方案的原因。(专业提示：低损耗不意味着低成本)。例如，提到的供应商提供的低损耗版本解决方案为0.35dB/配线盒，0.2dB/MPO适配器。利用上述损耗值，您可以继续保持所有链路的长度，在通道中部署四个连接器，满足在两个交换机处进行交叉连接的设计要求，并留有一定的设计裕量。这需要一点基本的数学知识：

• 100米多模光纤损耗0.3 dB + MPO至LC配线盒损耗(0.35dB ? ? ?X 4) = 1.7dB（远低于10GBASE-SR的2.9dB限值）

• 100米多模光纤损耗0.3 dB + MPO至LC配线盒损耗(0.2dB ? ? ?x 4) = 1.1dB (仍然在40GBASE-SR4的1.5dB限值范围之内)

寻找更为简单的方法

如您所见，确定已知应用的实际损耗需要了解标准、光纤长度和连接器数量、特定供应商规定的组件损耗以及一些基本数学知识。假如您细致而刻苦的话，上述方法当然可行，但利用特定供应商的链路损耗计算器，您将再也无需任何猜测工作以及数学计算。

一些供应商提供针对其组件的损耗计算器。福禄克网络的CertiFiber? Pro光纤损耗测试仪(Versiv 布线认证系统的组成部分)以及LinkWare?Live云服务甚至将针对低损耗和超低损耗光纤组件的康普SYSTIMAX?链路损耗计算器直接集成至测试仪之中。

但请记住，不管您如何计算损耗预算，确保在预算范围内的唯一方法是在完成设施安装之后，使用CertiFiber? Pro（CFP-100-Q，CFP-100-M，CFP-100-S）进行1级测试，从而测试通道的插入损耗。对于技术人员而言，这将是下一步的工作。

通过测试，您可以将设计计算值与实际结果进行比较——查看安装的执行情况，因为脏污的连接器和超出光纤弯曲半径要求都会增加损耗。利用加载至CertiFiber Pro之中的限值(从U盘或从PC远程下载至测试仪之中)，每条被测链接都将被判定为合格或不合格。在您修复和重新测试所有不合格链路之后，生成的报告可向您和您的客户证明链路处于良好状态。

对于衰减测量，最好是提供报告的损耗值，以及与该值相关的不确定度，然后将其与固定限值进行比较。损耗值(加不确定度)和测试限值之差称为余量，按测试设备进行报告。然而，如果报告的合格余量较小，测量不确定度就非常重要。

下图所示为损耗与测试限值关系的四种情况。对于下图中的每种情况，菱形表示测量值，其附近的区域为不确定度，有时也称为误差带。

四种测量情况以及误差带，与测试限值进行比较

情况1 -?测量值和不确定度都符合规定的限值。

情况2 -?测量值符合要求，但不确定度不符合。

情况3 -?测量值不符合要求，但不确定度可能符合(低概率)。

情况4 -?测量值和不确定度都不符合要求。

测量值接近限值时，情况变得“模棱两可”。实际应用中，误差带形状实际为下图所示的钟形曲线。钟形曲线为概率分布图。给出的测量值为曲线的最高点。

测量值的不确定度分布

另一种方式，可以通过以下两个例子进行观察。下图中，测量值的不确定度“溢出”了测试限值。此时，不合格的概率比较小，可能低于5%。

不合格的概率(较小)

下图中，测量值非常接近测试限值。此时，合格(PASS)的概率为50%，不合格(FAIL)的概率为50%。也就是说，您有50/50的可能性通过测试(或不能通过测试)。

不合格的概率(50 %)

两项国际标准，ISO/IEC 14763-3和IEC 61280-4-1，目前都经过重新修订，提供了关于测量不确定度的指导。特别是根据安装的布线长度、损耗及测试方法提供了不确定度值。按照指导实施，您可非常确信安装的布线能够正常工作。例如，在IEC 61280-4-1标准中，第三版提供了一个关于多模布线设施衰减的表格，如表1所示。表1中还包括了ISO/IEC 14763-3标准定义的多模光纤设施的通道测试方法。注意，国际标准中使用的小数点是逗号而不是句号。

不同测试方法下的衰减测量不确定度

总而言之，测量不确定度的情况可能比较复杂。衰减测量值的余量与测试限值是相关的。如果余量较小，在确定合格结果是否可接受时，应将测量不确定度考虑在内。文中提及的国际标准为决策提供了必要的指导。

故障定位：a.污染（图七a）

光纤连接头出现污染可能的原因有：

? 使用了受到污染的切割工具（通过无水酒精擦拭工具表面）

? 切割完成后再次擦拭了光纤（绝对不要在切割后擦拭光纤）

? 将连接头或光纤置于带灰尘的表面

? 处于满是灰尘的环境

? 插入已折断的光纤，用力过度

需要注意的是如果污染一旦被带入到光纤接头内部，特别是和接合凝胶接触后，将很难再被清除出来，这也意味着光纤连接头的报废。

故障定位：

b.光纤碎裂（图七b）

可能导致光纤碎裂的原因有：

?插入用力过度产生的光纤碎片污染

?插入已折断的光纤引起碎裂

嵌入的光纤碎片将引起光纤缝隙和光学故障，并且嵌入的光纤碎片是很难被清除出来的，这种情况下光纤接头将报废。

故障定位：c. 光纤的不良切割或折断（图七c）

造成光纤切割不良或折断的原因有：

?钝的或有裂口的切割刀锋 – 不能正常切割光纤

?切割工具上弯曲的标尺舌在光纤上施加了过度集中的弯力

?光纤弯折过多或者弯曲半径过紧

?在切割中没有用力或者用力不足

当没有碎片产生或没有受到污染的情况下，这种故障允许光纤连接头被重新切割接续一次。

故障定位：d. 预置打磨光纤与切割光纤接续缝隙过大（图七d）

造成接续缝隙过大的原因有：

? 光纤切割长度太短

? 光纤未完全导入, 或在端接时被回拉

? 在室外光缆接合时，光纤被推回到了护套管中

过大的光纤缝隙只允许被纠正一次。

故障定位：e. 过偏的光纤切割角度（图七e）

在接续现场，切割角度过偏很难被觉察。引发切割角度过偏的因素有：

? 切割工具上的弯曲舌在光纤上施加过分集中的弯曲力

? 光纤弯折过大或者弯曲半径过紧

? 在切割中没有用力或者用力不足

一般光纤切割后，典型的切割角度为1-3度，即便使用更精密的切割刀，光纤切割后仍然有0.5-1度的偏角。出现偏角的情况可以通过使用可见红光源（VFL）输入，并且缓慢旋转被切割的光纤端面，在PROclick连接头的可视窗口内监视直到红光消失的方法来解决。如图七f。

通过上面的介绍，不难看出非打磨光纤现场接续对于接续工艺和操作技术的敏感，非打磨现场端接技术的关键还是在于安装人员必须保持统一的切割和端接工艺，并且为使安装过程受控和避免返工，在接续中总是通过检测（如可视光源检测）以建立在端接过程中的信心，降低接续失败的风险。

深圳连讯达（0755-83999818）为中国最早从事福禄克销售和技术支持工作的公司。今天为大家讲解下有些客户在工地上看到福禄克测试的仪器。DTX-1800测试光纤衰减，可以两芯同时测试。但是不知道光纤模块是什么型号。

其实是福禄克DTX-1800配套的光纤模块，型号：DTX-SFM2（单模） 和DTX-MFM2（多模）

DTX 光纤模块（DTX-SFM2，DTX-MFM2）提供基本（第1 级）光纤认证解决方案 – 损耗、长度和极性测量。根据业界标准验证光纤链路性能。在多个波长上测量光损耗、测量光纤长度以及验证极性。您可以不可思议的速度对两根光纤的两个波长进行双向测试，而且无需交换主装置和远端装置，这是?Fluke Networks 独家提供的功能。可互换使用的接头适配器允许参考和测试连接线路，如果该连接满足大多数 SFF（小型）光纤接头的 TIA/ISO 标准。

竞争厂商的光纤适配器每次自动测试时仅能测量长度和两种损耗的测量值，与之不同的是，DTX 是唯一能够在每次自动测试时测量长度和四种损耗测量值（所有这些均在大约12秒内完成）的光纤测试解决方案。有了 DTX 光纤模块（DTX-SFM2，DTX-MFM2），光纤测试速度可较竞争厂商提高五倍。

Anyone who’s ever tested a multimode fiber optic link with light sources from different equipment?vendors will know that the loss measurement can vary by as much as 50 percent.若未进行适当控制，则多模光源会以不同的方式将光注入多模光纤。?即使采用同一制造商生产的光源，但在不同的发射条件下也会产生不同的链路损耗测量结果，最终出现不同的 — 并且通常令人困惑的 — 测试结果。

Overfilling tends to produce link-loss measurements that are inappropriately high and under filling tends to generate loss measurements that are optimistic in regards to the loss that will occur in the cabling once it is operational.?不同类型的光源会有不同的发射条件。例如：发光二极管 (LED) 会使多模光纤过多填充模式组，而激光又未使光纤填充足够的模式组。

这些有缺陷的结果最终会影响布线基础设施的性能，并且会造成数据中心和其它依靠光纤布线连接组件的环境方面的严重问题。

当考虑到网络技术已经进步并且损耗预算已经减少时，这就有些雪上加霜了。为了满足紧缩的损耗预算，必须最大限度地减少测试不确定性。因此，新型高性能宽带业务应用程序就成了现场测试仪器进行更准确和可重复进行多模衰减测量所需的动力。

行业专家认为有必要减小发射条件偏差，这在测试 1 GB 或更高多模光纤时显得尤为必要。

那么，解决方案是什么呢？答案是利用一种称为环形通量 (EF) 的标准，这是一种对以往方法所作的重大改进。环形通量 (EF) 是一种分析多模光源（例如： LED 或激光）启动条件的方法。它是在光源将光照射入多模光纤时光纤芯径内的功率百分比，并且它是通过近场测量来自连接测试仪器的参考等级测试线端的光确定的。

EF 标准可以将损耗测量的偏差减少至 +/- 10%。与以前允许高达40% 偏差的标准相比，EF 标准在多模测试的准确性和可重复性方面有了大幅改善。因此，需要进行线缆认证以及批准布线保证的相关组织和人员已经开始要求遵守这一新标准。

目前有可用于现场测试的环形通量 (EF) 解决方案。它们被称作“发射控制器”，是与模式调节器一起安装的特制测试级参考线。发射控制器的工作原理是在 EF 技术指标范围内限制测试线发射的模式组数量。这样可确保根据标准，结果测量是精确且可重复的。

是否达到环形通量 (EF) 标准由测试仪器供应商确认，它们使用专门的实验室设备对多模光纤内包含的不同模式之间的功率分布直接进行测量。

测量包括使用视频和处理方法，分析测试线端的近场分布。图像会转变为数据和图解说明。可以在选定的 EF 限值范围内绘图，以检查其是否合规。

The Telecommunications Industry Association (TIA) and?International Electrotechnical Commission (IEC) standards bodies both have documents that describe the requirements for EF.

EF 在将多模链路损耗测量缩小至 10% 偏差目标方面是一个重大进步。它将改善诸如模态功率分布和耦合功率之类的旧方法。由于符合 EF 标准的测试仪器会为认证测试提供最可靠的结果，因此网络工程师和设计师需要更新他们的测试技术指标，以要求使用符合 EF 标准的光源。

值得高兴的是Fluke Networks ?今年已经推出Fluke DTX–EFM2 环型通量多模光纤模块 ?配合DTX-1800我们就可以实现测试环境了。

相关阅读光纤环型通量 (EF) 测量白皮书：http://www.faxytech.com/archives/ef.html