其中

c= 真空中的光速 (2.998 x 108 m/s)

t= 从发射脉冲到接收脉冲的时延

n= 被测光纤的折射率（制造商指定）

OTDR 利用瑞利散射和菲涅耳反射效应测量光纤状况，但菲涅耳反射功率是背向散射功率的几万倍。

 脉冲在沿光纤传播时遇到材料的微小变化（如折射率的变化和不连续性），导致光向各个方向散射，从而发生瑞利散射。然而，少量光会直接反射回发射器，这种现象称为背向散射。

 光在沿光纤传播时遇到材料密度突然变化，会发生菲涅耳反射。材料密度的变化可能发生在有气隙的连接或断裂处。与瑞利散射相比，菲涅耳反射量非常大。反射强度取决于折射率的变化程度。

在一条完整曲线上，每个点代表多个采样点的平均值。要查看每个点，必须放大曲线。