很多工程测试中可能用到的方法就一种，现在给大家介绍A，B，C测试方法。

根据ANSI/TIA/EIA-526-14A标准，测试多模光缆链路的损耗，有两种测试方法：方法A和方法B。

我们根据不同的应用，在测试时，使用不同的方法来设置参考值。

一般一条光纤链路由光缆、连接器和跳线组成。在测试中，一般认为跳线造成的损耗可以忽略不计，因此主要测试的目标为光缆以及链路中所包含的连接器所造成的损耗。

方法A所针对的光缆链路，其全部的衰减主要是由光缆和一个光配线架上的连接器所造成的，?这种测试方法，使用两条用户连接光缆和一个连接适配器连接至被测的光缆链路。两条连接光缆和一个连接适配器作为参考值在测试中被排除。测试结果包括了被测光缆链路的损耗以及一个连接器的损耗。

这种光纤链路结构，主干上比较多见。

方法B

在这种链路结构中，两个配架连接器的损耗是整个链路损耗的重要部分，因此比较适合室内光缆的测试。它在设置参考值时使用一条连接光纤测试每条光缆链路。

在这种方法中，实际测试结果还包括了一根额外的连接光纤，但是其长度非常短，可以忽略不计。由于这种测试方法包括了光缆本身和两端连接器，是比较精确的光缆链路测试。也是我们在测试中用的最多的一种测试方法。

随着SFF连接器的流行，测试仪器所带的测试跳线和链路连接器接口不匹配的现象越来越普遍，因此我们现在推荐一种改进的方法B。它既能保持原来的精度（每次测量都包括光缆以及两端的连接器），又避免了其在测试SFF连接器时的缺陷。它在参考设置时使用两条连接光纤和一个连接器进行，结构类似于方法A，但在测试时包括了额外的带连接器的一条短小的测试跳线。

改进的方法B所得到的损耗测试结果和ANSI/TIA/EIA-526-14A定义的方法B的结果是一致的，测试的链路比设置参考值时多两个额外的适配器，测试结果包括了光缆的损耗和链路两端连接器的损耗，这个损耗值是网络实际硬件应用中所遇到的值。

这种方法可以使用不同类型的连接光纤连接测试仪和被测光缆链路，这对于现在越来越流行的微型连接器（SFF）的测试非常有用。使用这种方法，不需要在测试仪器端断开连接光缆，从而减少了可能由于重新插入所导致的污染误差或损坏测试仪器的光接口。

方法C

对于发射器和接收器直接通过光缆连接的链路结构，我们需要使用如下连接方法，用3根用户跳线和两个连接器设置参考值，跳线和连接器造成的损耗被扣除掉，测试的就是光缆造成的直接损耗了。这种方法多用了一根跳线，但由于跳线的损耗一般都被忽略不计的，因此这根多余的跳线认为不对测试结果造成影响。

测试时，需要注意以下几点：

1．当从设置参考值转换至测试设置时，需要将测试仪一端的连接光缆断开，这时要注意不要断开输出或光源一端。如果断开该连接，原来设置的参考值就失去意义了，不重新进行参考设置就会严重影响测试的结果。

2．在从测试仪测试（输入）端断开连接光纤时要非常小心，避免接头处受到污染或测试仪器受到损坏。

3．测试仪器的连接器必须和被测光缆的连接器相同。

4．测试带SFF连接器的光纤时应使用改进的方法B，并使用专门的从SFF到传统接口的转接跳线。

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